Home

Nominal cvadrant teren microscop electronic cu baleiaj Ale mele Concluzie Specializati

Microscopul electronic (SEM) Phenom XL
Microscopul electronic (SEM) Phenom XL

Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM

Microscoape Electronice cu Transmisie Morgagnia | aparatura de laborator
Microscoape Electronice cu Transmisie Morgagnia | aparatura de laborator

Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech

Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării. Training pe aparatură/Software performante
Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării. Training pe aparatură/Software performante

DEZVOLTARE BAZĂ MATERIALĂ DE CERCETARE PENTRU PROCESARE ŞI CARACTERIZARE MATERIALE AVANSATE NANOSTRUCTURATE | National Institute of Research and Development for Technical Physics
DEZVOLTARE BAZĂ MATERIALĂ DE CERCETARE PENTRU PROCESARE ŞI CARACTERIZARE MATERIALE AVANSATE NANOSTRUCTURATE | National Institute of Research and Development for Technical Physics

NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP

DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM

Microscop electronic de baleiaj cu emisie de camp (FESEM) Model Carl Zeiss Auriga Sistem cu fascicul focalizat de ioni (FIB) Mo
Microscop electronic de baleiaj cu emisie de camp (FESEM) Model Carl Zeiss Auriga Sistem cu fascicul focalizat de ioni (FIB) Mo

nanoscan
nanoscan

Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM

Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp

Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech

04_Microscopia electronică_site.pptx
04_Microscopia electronică_site.pptx

Microscop electronic de baleiaj QUATRO ESEM
Microscop electronic de baleiaj QUATRO ESEM

TEZĂ DE DOCTORAT
TEZĂ DE DOCTORAT

Laboratorul de microscopie - FoodSafety
Laboratorul de microscopie - FoodSafety

Echipamente
Echipamente

Microscopia electronica
Microscopia electronica

04_Microscopia electronică_site.pptx
04_Microscopia electronică_site.pptx

Laboratorul Geoecolab – Institutul Geologic al României
Laboratorul Geoecolab – Institutul Geologic al României

04_Microscopia electronică_site.pptx
04_Microscopia electronică_site.pptx

Microscoape electronice de baleiaj SEM
Microscoape electronice de baleiaj SEM

NANOMORPH
NANOMORPH

Untitled
Untitled

MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET

De caracterizare
De caracterizare

Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech